一代测试线 性能稳定 作为电测试的接触媒介 能对设备进行调试

射频同轴探针应用在较高频率环境中，与射频传输线之间会出现阻抗匹配度下降的问题，使得射频同轴探针探测得到的结果出现较大偏差。随着科学技术不断进步，芯片、集成电路、射频元器件等领域频率参数不断提高，同时对测试误差的要求日益严格，射频同轴探针与射频传输线之间的阻抗匹配难度越来越大